米、領事館駆け込みの中国研究者を逮捕
© Philip Pacheco / AFP 米サンフランシスコの中国総領事館で、有刺鉄線の背後に掲げられた中国国旗（2020年7月23日撮影）。
【AFP＝時事】米国査証（ビザ）を不正取得した疑いを掛けられ、在サンフランシスコ中国総領事館に駆け込んでいた中国人研究者が逮捕され、24日に裁判所に出頭する見通しとなった。米司法省筋が明らかにした。
逮捕された唐娟（Tang Juan）容疑者は、カリフォルニア大学デービス校（University of California, Davis）のがん治療研究者としてビザ申請を行った際、中国人民解放軍（PLA）との関係を隠していた疑いが掛けられている。
© Philip Pacheco / AFP 米サンフランシスコの中国総領事館に掲げられた中国国旗（2020年7月23日撮影）。
司法省の当局者は匿名を条件に記者団の取材に応じ、唐容疑者が米当局により拘束されたと説明。唐容疑者が総領事館から出た経緯については言及しなかったものの、容疑者には刑事訴追を免れる外交特権がないと指摘した。
米国ではここ数週間で、唐容疑者を含む中国人研究者4人が、中国人民解放軍とのつながりを隠してビザを不正取得した疑いで逮捕・訴追されている。司法省の23日の発表によると、4容疑者は科学・技術知識を得るため米機関に「入り込む」ことを目的とした中国の取り組みに関わっていたとみられている。
© Philip Pacheco / AFP 米サンフランシスコの中国総領事館入口（2020年7月23日撮影）。
【翻訳編集】AFPBB News
© Philip Pacheco / AFP 米サンフランシスコの中国総領事館前を歩く人（2020年7月23日撮影）。